En el laboratorio de microscopía electrónica de barrido se determina la microestructura de materiales sólidos.

Principales actividades

Análisis morfológico superficial mediante imagen de electrones secundarios y análisis de composición y topografía mediante imagen de electrones retrodispersados.

Análisis elemental por dispersión de Rayos-X mediante espectroscopia de energía dispersiva o de longitud de onda de rayos X (EDX o WDX).

Mapeos de Rayos-X.

Servicios

Caracterización de la microestructura de materiales a escala de micrómetros o nanómetros (en general > 100 nm).

Microanálisis de productos de corrosión/oxidación.

Caracterización de superficies de fractura en materiales metálicos.

Determinación de espesor y composición química de recubrimientos.

Caracterización de defectos superficiales.

Microanálisis para determinar contaminación en materiales.

Caracterización mineralógica.

Equipos

Microscopio electrónico de barrido Philips FEI modelo XL-30-PW6630/01, con resolución nominal de 3.5 nm operando a 30kV con filamento de tungsteno, con magnificación en el intervalo de 20 a 300,000 y capacidad para operar entre 200 V y 30 kV.

Microscopio electrónico de barrido Jeol modelo 6610LV, con resolución nominal de 3.0 nm operado a 30kV con filamento de tungsteno, con magnificación en el intervalo de 20 a 300,000 y capacidad para operar entre 200V y 30kV, con detector EDX libre de nitrógeno, totalmente automatizado en los 5 ejes. Cuenta con el software Feachure para hacer el análisis químico, de tamaño y fotográfias en forma automática.

Componentes básicos:

Detector Everhart Thornley (ET), para la formación de imágenes principalmente mediante contraste topográfico.

Detector de estado sólido para la formación de imágenes con electrones retrodispersados, utilizando contraste composicional.

Espectrómetro de dispersión de energía de rayos X marca EDAX, modelo DX4i con detector de estado sólido de silicio (Si (Li) ), para realizar microanálisis químico cualitativo y cuantitativo.

Espectrómetro de dispersión de longitud de onda de rayos X marca Microspec (Oxford), modelo WDX-400, para realizar microanálisis químico cualitativo y cuantitativo.

Microscopio electrónico de barrido Jeol modelo JSM-6610 LV, con resolución nominal de 3.0 nm operando a 30kV con filamento de tungsteno, con magnificación en el intervalo de 5 a 300,000 y capacidad para operar entre 300 V y 30 kV. Adicionalmente el equipo puede operar en el modo de bajo vacío a una presión en el intervalo de 10 a 270 MPa.

Componentes básicos:

Detector Everhart Thornley (ET), para la formación de imágenes principalmente mediante contraste topográfico.

Detector de estado sólido tipo semiconductor con junta P-N, para la formación de imágenes con electrones retrodispersados, utilizando contraste composicional. Este detector se utiliza también para realizar observaciones en el modo de bajo vacío. El equipo cuenta con un detector adicional para capturar electrones retrodispersados de bajo ángulo (shadow).

Platina motorizada de 5 ejes (X, Y, Z, rotación e inclinación).

Espectrómetro de dispersión de energía de rayos X marca Oxford con detector tipo SDD libre de nitrógeno (con enfriamiento Peltier), con capacidad para medir elementos ligeros (desde el boro), para realizar microanálisis químico cualitativo y cuantitativo.

Responsable

M.M.I.M. Antonio Alberto Torres Castillo

8.26.14.50 ext. 8221

atorres@uaslp.mx